YokoHama Research, Inc.  株式会社 横浜総合研究所


技術紹介>半導体ウエハ端面 ミクロ検査

 回転させたウエハ端面(エッジ)をラインセンサで撮影し、数ミクロンオーダーの微細な欠陥
を検出するシステムです。  1GBを超えるような巨大な画像にも対応します。

 ■特徴
  ・高速3バンド欠陥検出フィルタ
  ・回転蛇行補正
  ・検査レシピ設定用リアルタイムシミュレータ
  ・3Dヴューア

 ■製品仕様
  ・対象サイズ   200〜300mmウエハ端面(エッジ)および、端面近傍表裏面(ニアエッジ)
  ・分解能   3μ〜10μ/画素
  ・解像度   カラー : (2300〜7500)×300000×3[画素] / 白黒 : ( 320〜1024)×300000[画素]
  ・対象欠陥   傷、欠け、クラック、剥離、汚れ、異物、凹凸、変色 etc.

 (1)高速3バンド欠陥検出フィルタ
 大中小の3バンドフィルタを超高速で作用させ、様々な欠陥サイズ
の形状を正確に抽出したり、重なった欠陥を別々に検出することが
可能です。
 また、ノイズを排除する機能に優れる為、超低コントラストの欠陥で
も、確実に検出します。

 (2)回転蛇行補正

 エッジ部の撮影は、1画素数ミクロン程度の高分解能であるがゆえ
に、ウエハの反りや回転中の振動・うねり等の影響で、画像が蛇行
する場合があります。

 本システムでは、このような場合にも、画像処理で補正することが
可能です。

 (3)検査レシピ設定用 リアルタイムシミュレータ

 検査レシピ設定でパラメータの調整を行う場合は、フィルタやラベリ
ングなどの処理でも、スライダ移動により、リアルタイムに反応するた
め、最適値への収束が極めて容易です。

 2値化などの検出敷居値の設定も本機能で容易に調整できますが、
さらに画像適応型の自動モードを提供することで、ユーザのレシピ
設定の負担を軽減します。

 (4)3Dヴューア

 本機能は検出した欠陥座標を、あらかじめ構造定義されたエッジ
の3次元形状モデルの表面にマッピングし、3D表示するものです。

 複数方向から分割撮影された各画像から検出された欠陥群を、
1つのモデル構造上で同時に様々な方向で確認できるため、欠陥
分布を容易に把握することが可能です。

■実績

 国内・海外の大手半導体製造メーカにおいて、本システムを搭載した300mmウエハ端面の検査装置が、多数稼動しております。

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